簡要描述：手機CSP芯片組件外觀檢測機利用光學檢測原理，用程序對CCD成像照片進行分析，實現對芯片組件的表面進行檢測的結果，實現自動檢測，自動取放的功能。設備運行穩定，可對芯片組件外觀瑕疵進行正確識別和判斷，代替人工在顯微鏡下進行檢測的方案，幫助芯片組件廠商提高品質效率，降低運行成本

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　　一、產品概述：

　　手機CSP芯片組件外觀檢測機利用光學檢測原理，用程序對CCD成像照片進行分析，實現對芯片組件的表面進行檢測的結果，實現自動檢測，自動取放的功能。設備運行穩定，可對芯片組件外觀瑕疵進行正確識別和判斷，代替人工在顯微鏡下進行檢測的方案，幫助芯片組件廠商提高品質效率，降低運行成本

　　二、設備用途：

　　該設備主要用于實現手機攝像模組CSP組件外觀全自動檢查，CSP組件來料采用注塑料盤形式，采用堆疊式上下料形式，通過機器自動檢測，實現OK/NG快速分揀。

　　三、設備參數：

　　1.硬件參數：

　　2.適用載具：本設備對市場上主流的76×76mm；101.6×101.6mm可適用。

　　3.可檢機種：手機CSP芯片組件外觀檢測機可檢機種包括：CSP/COM機種。

　　4.檢測能力：

　　①可檢項目：

　　a.芯片正面，玻璃上下表面白點，污點，劃傷，臟污，玻璃邊緣崩缺，溢膠，切割偏移分層，影像區彩虹橫條紋或斜條紋等缺陷；

　　b.產品擺盤方向；

　　c.產品外形特征，識別混料。

核心指標：
視野	15mm×20mm
漏檢率	玻璃類：漏檢率＜500PPM（0.5‰）方向類：漏檢率＜100PPM（0.1‰）
過檢率	玻璃類：過檢率＜5% 方向類：過檢率＜1%
UPH	≥15000（CSP 一次良率90%），≥13500（CSP 一次良率85%）（按包裝板產品顆數需≥100參照評估）
可檢機種	CSP/COM機種
吸嘴支持	可以適用于4.5×4.5mm以上的組件產品。
料盤支持	76mm76mm和101.6mm101.6mm料盤
漏檢率=漏檢數/投檢數×100% 過檢率=過檢數/投檢數×100% 漏檢數和過檢數的確認，結合工具顯微鏡對標和熟練檢測員人工檢查進行綜合確認。
備注： 1.良率會直接影響漏過檢和UPH，以上均為典型值指標。 2.客戶個性化需求根據實際情況評估。 3.特殊機種因其本身特性導致的成像異常（比如油墨反光或者發射異常），則可能無法檢測。 4.設備根據灰度差異進行缺陷檢測，當不同缺陷呈現同類灰度形貌時，將無法區分缺陷種類。

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